Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques /

Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bhushan, Bharat (Editor ), Fuchs, Harald (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer, 2009.
Edición:1 edición
Materias:
Nanotecnología
Polímeros
Microscopía
Espectroscopía
Física
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