Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bhushan, Bharat (Editor ), Fuchs, Harald (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer, 2009.
Edición:1 edición
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
245 0 0 |a Applied scanning probe methods XI :  |b scanning probe microscopy techniques /  |c editores Bharat Bhushan, Harald Fuchs. 
250 |a 1 edición 
260 |a Berlin, Heidelberg :  |b Springer,  |c 2009. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Base de Datos SPRINGER 
504 |a Referencias 
590 |a ELEC 
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650 1 7 |a Nanotecnología  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Polímeros  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Microscopía  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Espectroscopía  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Física  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
700 1 |a Bhushan, Bharat,  |e editor 
700 1 |a Fuchs, Harald,  |e editor 
903 |a Martha E  |b 2024/06/11