Low-temperature microscopy and analysis /

Bibliographic Details
Main Author: Echlin, Patrick
Format: Book
Language:English
Published: Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2013.
Edition:1 edición
Subjects:
Description
Item Description:Base de Datos SPRINGER.
Physical Description:1 recurso en línea : ilustraciones, diagramas, fotografías, gráficos.
Bibliography:Referencias
ISBN:9781489923028