An introduction to mixed-signal IC test and measurement /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Nueva York, Estados Unidos :
Oxford University Press,
2012.
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| Edición: | Second Edition |
| Materias: |
Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
621.3815 |
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| Copia | Disponible |