Muestreo aplicado al control en las empresas : control estadístico de calidad.

Bibliographic Details
Main Author:	Castillo Sevilla, Milton (Autor/a)
Other Authors:	Ureña Quirós, Claudio Rafael (Autor/a)
Format:	Thesis Book
Language:	Spanish
Published:	San José, C.R., 1998.
Subjects:	CONTROL DE CALIDAD > METODOS ESTADISTICOS MUESTREO (ESTADISTICA)

Description
Physical Description:	viii, 180 [50] hojas : ilustraciones.

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