Muestreo aplicado al control en las empresas : control estadístico de calidad

Bibliographic Details
Main Authors: Castillo Sevilla, Milton (Author, Autor/a), Ureña Quirós, Claudio Rafael (Autor/a)
Format: Thesis Book
Language:Spanish
Published: San José, C.R., 1998.
Subjects:

Sistema de Bibliotecas de Universidad de Costa Rica

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