Export Ready — 

Muestreo aplicado al control en las empresas : control estadístico de calidad.

Bibliographic Details
Main Author: Castillo Sevilla, Milton (Autor/a)
Other Authors: Ureña Quirós, Claudio Rafael (Autor/a)
Format: Thesis Book
Language:Spanish
Published: San José, C.R., 1998.
Subjects:

Sistema de Bibliotecas de Universidad de Costa Rica

Holdings details from Sistema de Bibliotecas de Universidad de Costa Rica
Copy Available