Electron microscopy and analysis /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Goodhew, Peter J. (Autor, Autor/a), Humphreys, F. J. (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: London, Sydney : Taylor and Francis, c1988.
Edición:2. edition
Materias:
LEADER 00781nam a2200241 u 4500
001 000092071
005 20060303101848.0
008 960628s1988 enk ||||| eng
020 |a 0850664144 
035 |a 147352 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a eng 
082 0 |a 502.825  |b G652E2  |2 22 
100 1 |a Goodhew, Peter J.  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Electron microscopy and analysis /  |c P.J. Goodhew and F.J. Humphreys 
250 |a 2. edition 
260 |a London, Sydney :  |b Taylor and Francis,  |c c1988. 
300 |a 232 páginas :  |b ilustraciones 
650 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS 
700 1 |a Humphreys, F. J.  |e Autor/a  |4 aut 
912 |a 03-MAR-2006 - QUIROS SALAZAR, DANILO 
949 |a AE-AE b AE 
916 |a Centro Catalográfico