Stereology and morphometry in electron microscopy : problems and solutions /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Reith, Allbrecht (Editor )
Otros Autores: Mayhew, Terry M. (Editor , Editor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Hemisphere, c1988.
Colección:An Ultrastructural pathology publication series
Materias:
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245 1 0 |a Stereology and morphometry in electron microscopy :  |b problems and solutions /  |c edited by Albrecht Reith, Terry M. Mayhew. -- 
260 |a New York, New York :  |b Hemisphere,  |c c1988. 
300 |a xviii, 215 páginas :  |b ilustraciones 
490 0 |a An Ultrastructural pathology publication series 
650 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS 
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