Symposium on advances in electron metallography

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: American Society for Testing Materials (Autor, Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Colección:Its. Special technical publication ; n. 245)
Materias:
LEADER 00664nam a2200205 u 4500
001 000332682
005 20110720143301.0
008 s1958 pau ||||| eng
035 |a 57931 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a eng 
082 0 |a 669.95  |b A512s  |2 00 
110 2 |a American Society for Testing Materials  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Symposium on advances in electron metallography 
300 |a 120 páginas :  |b ilustraciones ;  |c 23 cm.-- 
490 0 |a Its. Special technical publication ;  |v n. 245) 
650 |a METALOGRAFIA 
650 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS 
949 |a -ME.b ME 
916 |a Registros del LS-2000