X-Ray microanalysis in the electron microscope /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Chandler, John A. (Autor, Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Amsterdam : North Holland, 1977.
Edición:1. edition --
Colección:Practical methods in electron microscopy
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
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245 1 0 |a X-Ray microanalysis in the electron microscope /  |c John A. Chandler. -- 
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260 |a Amsterdam :  |b North Holland,  |c 1977. 
300 |a [236] páginas :  |b ilustraciones ;  |c 23 cm.-- 
490 0 |a Practical methods in electron microscopy 
500 |a Reimpresiones: 1987. 
504 |a Incluye bibliografias. 
650 |a DIFRACCION DE RAYOS X 
650 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS 
949 |a AP-AP. AP. 
916 |a Registros del LS-2000