Medidas de resistividad en peliculas delgadas de Al /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chaverri, Diego (Autor, Autor/a), Sáenz, Alejandro (Autor/a)
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Publicado: c1990.
Materias:
LEADER 00696nab a2200217 u 4500
001 000471405
005 20110720143301.0
008 940112s1990 cr r ||||| spa
035 |a 23169 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a spa 
082 0 |a 500  |b C  |2 23 
100 1 |a Chaverri, Diego  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Medidas de resistividad en peliculas delgadas de Al /  |c Diego Chaverri, Alejandro Saenz. 
260 |c c1990. 
300 |a 125-128 
650 |a PELICULAS METALICAS  |x INVESTIGACIONES 
700 1 |a Sáenz, Alejandro  |e Autor/a  |4 aut 
773 0 |7 nnab  |t Ciencia y tecnología  |g Vol.14, no.1-2 
949 |a YV,GA-GA-b-CJ 
916 |a Registros del LS-2000