IEEE Transactions on pattern analysis and machine intelligence

Detalles Bibliográficos
Formato: Seriadas
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1900.
Materias:
Descripción
Publicado:(v. 1-). --
Descripción Física:lustraciones ; 28 cm
ISSN:0162-8828