Nanometrology using the transmission electron microscope /
Autor principal: | Stolojan, Vlad (Autor/a) |
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
San Rafael, CA :
Morgan & Claypool Publishers,
c2015.
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Colección: | IOP concise physics
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Materias: | |
Acceso en línea: | Ver documento en línea |
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