Nanometrology using the transmission electron microscope /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Stolojan, Vlad (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: San Rafael, CA : Morgan & Claypool Publishers, c2015.
Colección:IOP concise physics
Materias:
Acceso en línea:Ver documento en línea

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