A practical guide to surface metrology /

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A practical guide to surface metrology /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Quinten, Michael (Autor/a)
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	Switzerland : Springer, c2019.
Colección:	Springer Series in Measurement Science and Technology / editors Markys G. Cain, Giovanni Battista Rossi, Jirí Tesař, Marijn van Veghel, Kyung-Young Jhang
Materias:	MEDICIÓN DE SUPERFICIES > GUÍAS MEDICIÓN DE SUPERFICIES > MÉTODOS INSTRUMENTOS OPTICOS CALIBRACIÓN > MEDICIONES MICROSCOPIA INTERFEROMETRÍA ELIPSOMETRÍA SENSORES
Acceso en línea:	Ver documento en línea

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