Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fan, Yongquan (Autor/a)
Otros Autores: Zilic, Zeljko (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Springer, c2011.
Colección:Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
Materias:
Acceso en línea:Ver documento en línea
Descripción
Descripción Física:1 recurso en línea (xii, 194 páginas) : ilustraciones (algunas a color), diagramas a color, gráficos (algunos a color), archivo de texto, PDF.
ISBN:9789048193981
9789048193974
Acceso:Acceso al texto completo para la comunidad de la UCR por medio de la cuenta institucional