Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience /

Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Zuo, Jian Min 1962- (Autor/a)
Otros Autores: Spence, John C.H. (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Springer, [2017].
Materias:
MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION
MICROSCOPIA ELECTRONICA > APLICACIONES CIENTIFICAS
NANOCIENCIA
NANOESTRUCTURAS > PROPIEDADES OPTICAS
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