Saltar al contenido
VuFind
Lenguaje
English
Español
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
Ageing of integrated circuits...
Descripción
Citar
Enviar este por Correo electrónico
Imprimir
Exportar Registro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Exportar a MARC
Exportar a RDF
Exportar a BibTeX
Exportar a RIS
Ageing of integrated circuits : Causes, Effects and Mitigation Techniques.
Detalles Bibliográficos
Formato:
Libro
Acceso en línea:
Ver documento en línea
Existencias
Descripción
Ejemplares similares
Vista Equipo
Descripción
ISBN:
9783030237813
Ejemplares similares
Integrated circuit test engineering : modern techniques /
por: Grout, Ian A.
Publicado: (2006)
Report on early-age cracking : causes, measurement, and mitigation /
Publicado: (2010)
Control techniques for power converters with integrated circuit /
Publicado: (2018)
Memory integrated circuits.
Publicado: (1980)
Memory integrated circuits
Publicado: (1979)
×
Cargando...