Atomic scale characterization and first-principles studies of Si3N4 interfaces /
Formato: | Libro |
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Publicado: |
c2011.
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Acceso en línea: | Ver documento en línea |
ISBN: | 9781441978172 |
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Formato: | Libro |
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Publicado: |
c2011.
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ISBN: | 9781441978172 |
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