Dielectric breakdown in gigascale electronics : time dependent failure mechanisms /
| Formato: | Libro |
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| Publicado: |
c2016.
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| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
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| 245 | 1 | 0 | |a Dielectric breakdown in gigascale electronics : |b time dependent failure mechanisms / |c Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky. |
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