Sistemas de medición : principios y aplicaciones /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Beentley, John P.
Formato: Libro
Publicado: México : CECSA, 1993
Edición:2a. ed.
Materias:
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020 |a 968-26-1221-7 
040 |a Sistema Bibliotecario Universidad de El Salvador 
082 |a 621.38158  |b B477s 
100 |a Beentley, John P. 
245 |a Sistemas de medición :  |b principios y aplicaciones /  |c John P. Bentley 
250 |a 2a. ed. 
260 |a México :  |b CECSA,  |c 1993 
300 |a xiv, 572 p. :  |b il. ;  |c 25 cm. 
650 |a Mediciones-Instrumentos  |2 LEMB 
650 |a Medidas eléctricas  |2 LEMB 
592 |a Precisión de los sistemas de medición en el estado estable -- Caracteristicas dinamicas de los sistemas de medición -- Efectos de la carga en los sistemas de medición -- Señales y ruido en los sistemas de medición -- Confiabilidad, elección y economía de los sistemas de medición -- Elementos típicos en los sistemas de medición -- Sistemas de medición especializados. 
991 |a ing_silvia 
992 |a 08/02/2007 
942 |c BK 
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