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LEADER |
02021cam a220039777 4500 |
008 |
50920 t2004 es d|||g|||m||||||||spa|d |
041 |
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|a spa
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094 |
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|a 1504
|b O745r
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100 |
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|a Orellana Alvarado, Fantina Deruchette
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245 |
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|a Requerimientos de calibración en DC y baja frecuencia en los sectores industria y comercio en El Salvador /
|c Fantina Deruchette Orellana Alvarado, Luis Alfredo Pérez Orellana, Julio Alberto Pérez Quezada; asesores Jose Roberto Ramos López, Armando Martínez Calderón
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260 |
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|a San Salvador :
|b Universidad de El Salvador,
|c 2004
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300 |
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|a 152 h. :
|b graf. col. ;
|c 28 cm.
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502 |
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|a Tesis (Ingeniero Electricista) -- Universidad de El Salvador, San Salvador, 2004
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592 |
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|a Aspectos generales sobre metrología
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592 |
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|a Definición y clasificación de la metrología
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592 |
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|a Campos de aplicación de la metrología
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592 |
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|a Homologación metrológica
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592 |
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|a Organizaciones de metrología
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592 |
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|a Definición de calibración
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592 |
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|a Jerarquía dentro de la metrología
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592 |
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|a Trazabilidad de las mediciones
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592 |
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|a Metrología eléctrica
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592 |
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|a Trazabilidad sobre calibraciones en base a patrones eléctricos de medición
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592 |
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|a Obtención de un inventario de facilidades de calibración
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592 |
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|a Requisitos mínimos que debe de poseer un futuro laboratorio
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700 |
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|a Pérez Orellana, Luis Alfredo,
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700 |
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|a Pérez Quezada, Julio Alberto,
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700 |
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|a Ramos López, José Roberto
|e asesor
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700 |
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|a Martínez Calderón, Armando
|e asesor
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856 |
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|u 10129091
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991 |
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|a bc_rube
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992 |
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|a 20/09/2005
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942 |
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|c BK
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999 |
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|c 63227
|d 63227
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952 |
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|0 0
|1 0
|4 0
|6 1504_000000000000000_O745R
|7 0
|8 T
|9 111400
|a 10
|b 10
|c T
|d 2012-08-16
|e Estudiante
|i 10129091
|o 1504 O745r
|p 10129091
|r 2012-08-16
|w 2012-08-16
|y TS
|x 200905
|
952 |
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|0 0
|1 0
|4 0
|6 1504_000000000000000_O66R
|7 0
|8 T
|9 111401
|a 15
|b 15
|c T
|d 2012-08-16
|i 15101347
|o 1504 O66r
|p 15101347
|r 2012-08-16
|t 1
|w 2012-08-16
|y TS
|x 20/01/2009
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