Muestreo : diseño y análisis / Sharon L. Lohr ; traducción: Óscar Alfredo Palmas Velasco ; revisión técnica: Carlos Martínez Reyes

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Lohr, Sharon L.
Otros Autores: Palmas Velasco, Óscar Alfredo, trad. Martínez Reyes, Carlos, rev.
Formato: Libro
Lenguaje:Undetermined
Publicado: México ; International Thomson Editores
Materias:

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Número de Clasificación: 519.52 L833m
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