Strahlenexposition in der Computertomographie : Grundlagen, Einflußfaktoren, Dosisermittlung, Optimierung, Zahlenwerte, Begriffe

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Nagel, Hans D.
Formato: Libro
Lenguaje:Undetermined
Publicado: DE H.D. Nagel, Alemania 1999

Laboratorio de Física de Radiaciones y Metrología (LAFRAM)

Detalle de Existencias desde Laboratorio de Física de Radiaciones y Metrología (LAFRAM)
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