Ramírez de León, C. P. (2003). Sensitividades de un espectrómetro de rayos X en geometría ortogonal, como método primario para el análisis químico y su aplicación para la caracterización de materias primas y producto terminado. Guatemala: USAC.
Chicago Style CitationRamírez de León, Clara Patricia. Sensitividades De Un Espectrómetro De Rayos X En Geometría Ortogonal, Como Método Primario Para El Análisis Químico Y Su Aplicación Para La Caracterización De Materias Primas Y Producto Terminado. Guatemala: USAC, 2003.
MLA CitationRamírez de León, Clara Patricia. Sensitividades De Un Espectrómetro De Rayos X En Geometría Ortogonal, Como Método Primario Para El Análisis Químico Y Su Aplicación Para La Caracterización De Materias Primas Y Producto Terminado. Guatemala: USAC, 2003.