Sensitividades de un espectrómetro de rayos X en geometría ortogonal, como método primario para el análisis químico y su aplicación para la caracterización de materias primas y producto terminado /
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Tesis Libro |
| Publicado: |
Guatemala :
USAC,
2003.
|
| Materias: |
Sistema de Bibliotecas USAC
| Copia | Disponible |
|---|