Sensitividades de un espectrómetro de rayos X en geometría ortogonal, como método primario para el análisis químico y su aplicación para la caracterización de materias primas y producto terminado /

Sensitividades de un espectrómetro de rayos X en geometría ortogonal, como método primario para el análisis químico y su aplicación para la caracterización de materias primas y producto terminado /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ramírez de León, Clara Patricia
Formato: Tesis Libro
Publicado: Guatemala : USAC, 2003.
Materias:
Radiodiagnóstico > Investigaciones
Química análitica

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