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METODO PARA MEDIR LAS INTERFERENCIAS DE CROSSTALK EN CIRCUITOS INTEGRADOS CMOS-VLSI.
por
SAINZ, J. A.
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2
ESCUELA DE INGENIERIA ELECTRONICA RUMBO A LA ACREDITACION.
por
HERNANDEZ RIVERA, MIGUEL ANGEL
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NANOMETER TECHNOLOGY EFFECTS ON FAULT MODELS FOR IC TESTING.
por
AITKEN, ROBERT C.
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INCREMENTAL CHANGE IN OBJECT-ORIENTED PROGRAMMING.
por
RAJLICH, VACLAV
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TARJETA HDLC4M DE CIBERTEC INTERNACIONAL.
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6
DISEÑO DE UN CIRCUITO INTEGRADO.
por
CHACON RODRIGUEZ, ALFONSO
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7
LA UTILIZACION DE LOS " SIXPACK ", UNA INNOVACION EN LOS S.A.I.
por
PEREZ MIGUEL, ANGEL ALBERTO
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8
RAPID EMBEDDED SYSTEM TESTING USING VERIFICATION PATTERNS.
por
TSAI, WEI-TEK
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CARVAJAL, JOHAN
1
CHACON RODRIGUEZ, ALFONSO
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1
PEREZ MIGUEL, ANGEL ALBERTO
1
RAJLICH, VACLAV
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SAINZ, J. A.
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TSAI, WEI-TEK
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