NANOMETER TECHNOLOGY EFFECTS ON FAULT MODELS FOR IC TESTING.

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	AITKEN, ROBERT C.
Formato:	Artículo
Lenguaje:	Spanish
Materias:	CIRCUITOS TECNOLOGIA CIRCUITOS INTEGRADOS Artículos de revista

Detalle de Existencias desde Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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