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METODO PARA MEDIR LAS INTERFERENCIAS DE CROSSTALK EN CIRCUITOS INTEGRADOS CMOS-VLSI.
Artículo
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ESCUELA DE INGENIERIA ELECTRONICA RUMBO A LA ACREDITACION.
Artículo
3
NANOMETER TECHNOLOGY EFFECTS ON FAULT MODELS FOR IC TESTING.
Artículo
4
INCREMENTAL CHANGE IN OBJECT-ORIENTED PROGRAMMING.
Artículo
5
TARJETA HDLC4M DE CIBERTEC INTERNACIONAL.
Artículo
6
DISEÑO DE UN CIRCUITO INTEGRADO.
Artículo
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VLSI SYSTEMS DESIGN FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSING.
por BOWEN, B.A.
Publicado 1982
Libro
8
Designing with TTL integrated circuits.
Publicado 1971
Libro
9
Digital logic and computer design.
por Mano M., Morris
Publicado 1979
Libro
10
LA UTILIZACION DE LOS " SIXPACK ", UNA INNOVACION EN LOS S.A.I.
Artículo
11
ELECTRONICA : TEORIA DE CIRCUITOS Y DISPOSITIVOS ELECTRONICOS /
Libro
12
[Instituto Costarricense de Electricidad].
por Madrigal A., Adolfo
Publicado 1991
Tesis Libro
13
AKRON de Costa Rica S.A.
por Murillo Rojas, Eliecer
Publicado 1991
Tesis Libro
14
RAPID EMBEDDED SYSTEM TESTING USING VERIFICATION PATTERNS.
Artículo
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