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Scanning electron microscopy
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Scanning electron microscopy
Detalles Bibliográficos
Autor principal:
IIT Research Institute
Formato:
Libro
Lenguaje:
English
Publicado:
Chicago :
IIT Research Institute ,
[1973]
Materias:
MICROSCOPIA ELECTRÓNICA
Existencias
Descripción
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Vista Equipo
Descripción
Descripción Física:
789 p.
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