Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , , , , |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York :
Springer,
c2018.
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| Edición: | fourth edition |
| Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad Nacional de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
539.7222 |
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| Copia | Disponible |