Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Echlin, Patrick, Goldstein, Joseph I., Joy, David C., Lifshin, Eric, Lyman, Charles E., Michael, Joseph R., Newbury, Dale E., Sawyer, Linda
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Springer, 2003.
Edición:3 edition
Materias:
Microscopía electrónica
Radiografías
Rayos X
Microanálisis
libros

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Número de Clasificación: 502.825
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