Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Echlin, Patrick, Goldstein, Joseph I., Joy, David C., Lifshin, Eric, Lyman, Charles E., Michael, Joseph R., Newbury, Dale E., Sawyer, Linda
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	New York : Springer, 2003.
Edición:	3 edition
Materias:	Microscopía electrónica Radiografías Rayos X Microanálisis libros

Descripción
Descripción Física:	690 páginas : ilustraciones, figuras + 1 disco de computadora
ISBN:	9780306472923

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