Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , , , , |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York :
Springer,
c2018.
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| Edición: | fourth edition |
| Materias: |
| Descripción Física: | xxiii, 550 páginas : fotografías, diagramas, gráficos, muestras. |
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| Bibliografía: | Incluye apéndice página 542 e índice página 547 |
| ISBN: | 9781493966745 |