Failure mechanisms in semiconductor devices /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Amerasekera, E. A.
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	New York : John Wiley & Sons, 1997.
Edición:	2 edición
Materias:	Circuitos Componentes Matemática Control de calidad Semiconductores libros

Descripción
Descripción Física:	345 páginas.
ISBN:	0471954829

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