Failure mechanisms in semiconductor devices /
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York :
John Wiley & Sons,
1997.
|
| Edición: | 2 edición |
| Materias: |
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|---|---|---|---|
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| 040 | |a Sistema de Bibliotecas del TEC | ||
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| 100 | 1 | |a Amerasekera, E. A. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Failure mechanisms in semiconductor devices / |c E. A. Amerasekera y Farid N. Najm. |
| 250 | |a 2 edición | ||
| 260 | |a New York : |b John Wiley & Sons, |c 1997. | ||
| 300 | |a 345 páginas. | ||
| 590 | |a INGE | ||
| 590 | |a MATE | ||
| 650 | 1 | 4 | |a Circuitos |
| 650 | 1 | 4 | |a Componentes |
| 650 | 1 | 4 | |a Matemática |
| 650 | 1 | 4 | |a Control de calidad |
| 650 | 1 | 4 | |a Semiconductores |
| 655 | 4 | |a libros | |
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| 903 | |a autecnica |b 2012/05/14 | ||