Identifying apple surface defects using principal components analysis and artificial neural networks.

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Bennedsen, B. S.
Otros Autores:	Peterson, D. L., Tabb, A.
Formato:	Artículo
Lenguaje:	Spanish
Materias:	Detección Defectos Procedimientos de imágenes Imágenes Clasificación Artículos de revista

Descripción
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