Identifying apple surface defects using principal components analysis and artificial neural networks.
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | Spanish |
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| 040 | |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica | ||
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| 535 | 1 | |a Sala de Colecciones abiertas | |
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| 650 | 1 | 4 | |a Detección |
| 650 | 1 | 4 | |a Defectos |
| 650 | 1 | 4 | |a Procedimientos de imágenes |
| 650 | 1 | 4 | |a Imágenes |
| 650 | 1 | 4 | |a Clasificación |
| 655 | 4 | |a Artículos de revista | |
| 700 | 1 | |a Peterson, D. L. | |
| 700 | 1 | |a Tabb, A. | |
| 773 | 1 | |t TRANSACTIONS OF THE ASABE. |g Volumen 50, número 6 (November/December, 2007), páginas 2257-2265 | |
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