Classification of fungal infected wheat kernels using near - infrared reflectance hyperspectral imaging and support vector machine.

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Zhang, H.
Otros Autores: Jayas, D. S., Paliwal, J., White, N. D. G.
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Materias:

Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica

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