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| LEADER |
01392nam a2200337 u 4500 |
| 001 |
000263575 |
| 005 |
20170224132058.0 |
| 008 |
150730s2014 cr m 000 | spa d |
| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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| 090 |
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|a TF 7614
|
| 100 |
1 |
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|a Chaves-Alfaro, Andrea
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Determinación del mejor equipo y procedimiento para la medición del espesor capas delgadas, en el Instituto Tecnológico de Costa Rica /
|c Andrea Chaves-Alfaro.
|
| 260 |
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|a Cartago, Costa Rica :
|b A. Chaves A.,
|c 2014.
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| 300 |
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|a 1 disco de computadora :
|b ilustraciones, gráficas, tablas.
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| 336 |
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|
|a texto
|b txt
|2 rdacontenido
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| 337 |
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|
|a computadora
|b c
|2 rdamedio
|
| 338 |
|
|
|a disco de computadora
|b cd
|2 rdaportador
|
| 502 |
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|a Proyecto de graduación
|b (Bachillerato en Ciencia e Ingeniería de los Materiales)
|c Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales,
|d 2014.
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| 504 |
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|
|a Bibliografía
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| 590 |
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|a ITCR
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| 590 |
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|a COTA
|
| 590 |
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|a CSUCA2
|
| 590 |
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|
|a META
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| 610 |
2 |
4 |
|a Instituto Tecnológico de Costa Rica (TEC)
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Difracción
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Microscopia electrónica
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Confiabilidad
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Factores físicos
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Estadísticas
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 655 |
|
4 |
|a Tesis
|
| 902 |
|
|
|a autecnica
|b 2017/02/24
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