Process capability indices for skewed populations. /

Bibliographic Details
Main Author: Chang, Young Soon (creador/a.)
Other Authors: Choi, In Su (creador/a.), Bai, Do Sun (creador/a.)
Format: Book
Language:English
Published: New Jersey, Estados Unidos : John Wiley & Sons Ltd., 2020.
Subjects:
Description
Item Description:Base de Datos Wiley-Token.
Separata de: Quality and Reliability Engineering International (ISSN: 10991638), volumen 18, número 2 (2002), páginas : 383-393.
Physical Description:11 páginas : tablas, gráficos.
Bibliography:Incluye referencias al final del artículo.