Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ramírez Porras, Arturo (Autor/a)
Otros Autores: Araya Pochet, José Alberto (Director/a del TFG)
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: [San José], C.R., 2005.
Materias:
Acceso en línea:Ver documento en repositorio
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245 1 0 |a Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /  |c Arturo Ramírez Porras ; José Araya Pochet, profesor consejero. 
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300 |a xii, 87 hojas :  |b ilustraciones. 
502 |a Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005. 
650 0 7 |a SILICIO  |x PROPIEDADES ELECTRICAS 
650 0 7 |a DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS 
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909 |a Ingeniería Eléctrica 
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912 |a 25-SEP-2014 - MOREIRA PEREZ, MARIA CECILIA 
916 |a Centro Catalográfico 
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949 |a MEC -AM 
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