Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /

Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ramírez Porras, Arturo (Autor/a)
Otros Autores: Araya Pochet, José Alberto (Director/a del TFG)
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: [San José], C.R., 2005.
Materias:
SILICIO > PROPIEDADES ELECTRICAS
DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS
DIODOS EMISORES DE LUZ
OPTOELECTRONICA > INVESTIGACIONES
Acceso en línea:Ver documento en repositorio

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