Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Hoboken, New Jersey :
J. Wiley & Sons,
c2012.
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| Materias: |
| Descripción Física: | xxii, 464 páginas : ilustraciones |
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| ISBN: | 9780470638828 |