Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Haugstad, Greg (Autor, Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Hoboken, New Jersey : J. Wiley & Sons, c2012.
Materias:
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100 1 |a Haugstad, Greg  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Atomic force microscopy :  |b understanding basic modes and advanced applications /  |c Greg Haugstad 
260 |a Hoboken, New Jersey :  |b J. Wiley & Sons,  |c c2012. 
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650 |a MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA 
650 |a MICROSCOPIA DE EXPLORACION CON SONDA 
912 |a 08-JAN-2014 - GARRIDO CORDERO, IRINA 
915 |a 08-JAN-2014 
917 |a 28-NOV-2013 - MATAMOROS GRANADOS, EILLING 
949 |a IG -EMQ 
916 |a Centro Catalográfico