Electrical phenomena at interfaces : fundamentals, measurements, and applications /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ohshima, Hiroyuki (Editor )
Otros Autores: Furusawa, Kunio (Editor , Editor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: New York, New York : M. Dekker, 1998.
Edición:2. edición rev. and expanded
Colección:Surfactant science series
Materias:
LEADER 00938nam a2200265 u 4500
001 000092016
005 20020204093904.0
008 010531s1998 xxu ||||| spa
020 |a 0824790391 
035 |a 6501083 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a spa 
082 0 |a 541.33  |b E28e2  |2 20 
100 1 |a Ohshima, Hiroyuki  |e Editor/a  |4 edt 
245 1 0 |a Electrical phenomena at interfaces :  |b fundamentals, measurements, and applications /  |c edited by Hiroyuki Ohshima, Kunio Furusawa 
250 |a 2. edición rev. and expanded 
260 |a New York, New York :  |b M. Dekker,  |c 1998. 
300 |a 628 páginas 
490 0 |a Surfactant science series 
650 |a QUIMICA DE SUPERFICIES 
650 |a CAPA BIPOLAR 
700 1 |a Furusawa, Kunio  |e Editor/a  |4 edt 
912 |a 04-FEB-2002 - ROJAS SOTO, ANA EUDITH 
917 |a 31-MAY-2001 - JIMENEZ VELASCO, MARTA SYLIA 
916 |a Centro Catalográfico