Inspección por atributos : planes de muestra única, doble y múltiple con rechazo /
| Formato: | Libro |
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| Lenguaje: | Spanish |
| Publicado: |
San José, C.R. :
Editorial Tecnológica,
1978.
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| Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
658.652.015.195 |
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| Copia | Disponible |