Inspección por atributos : planes de muestra única, doble y múltiple con rechazo /
| Format: | Book |
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| Language: | Spanish |
| Published: |
San José, C.R. :
Editorial Tecnológica,
1978.
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| Subjects: |
Sistema de Bibliotecas de Universidad de Costa Rica
| Call Number: |
658.652.015.195 |
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| Copy | Available |