Applied logistic regression /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hosmer, David W. (Autor, Autor/a), Lesmeshow, Stanley (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Willey, c1989.
Colección:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics section
Materias:
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035 |a 17434 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
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100 1 |a Hosmer, David W.  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Applied logistic regression /  |c David W. Hosmer, Stanley Lemeshow 
260 |a New York, New York :  |b Willey,  |c c1989. 
300 |a xiii 307 páginas ;  |c 23 cm.-- 
490 0 |a Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics section 
500 |a Incluye indice 
504 |a Bibliografia: p. 291-300 
650 |a ANALISIS DE REGRESION 
700 1 |a Lesmeshow, Stanley  |e Autor/a  |4 aut 
912 |a 30-MAR-2006 - QUIROS SALAZAR, DANILO 
949 |a LM-LM b.LM 
916 |a Registros del LS-2000