Applied logistic regression /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hosmer, David W. (Autor, Autor/a), Lesmeshow, Stanley (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Willey, c1989.
Colección:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics section
Materias:

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